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書名/名稱：Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
作者：Ashok K. Sharma
出版社：Wiley-IEEE Press
說明或參考網址：
https://www.amazon.com/Semiconductor-Memories-Technology-Testing-Reliability/dp
/0780310004
書況:5成新
原價/售價：500元 +50元運費
交易方式/地區:郵政或台南市面交
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