課程名稱 P102209 積體電路測試技術
開課時數 15小時
上課費用 一般價4,500元
特約廠商、3人以上團報4,000元 峡查詢特約商明錄 峡立即加入特約廠商
同服務單位五人以上團報3,000元
開課日期 103年6月16日至6月30日 每週一、三、四 晚間18:30~21:30
開課地點 交通大學工程四館教室與電腦教室
（教室地點於課前，以行前通知另行公佈）
地址：新竹市大學路1001號
招生對象 半導體產業暨相關系統業者之在職人士或有相關技術需求者
結訓 本課程核發「結訓證書」依據為出席率8成以上（依據簽到退表資料）
課程目標 本課程為積體電路測試技術課程，期讓學員深入瞭解測試技術。邀請測試領域
的專家，詳細介紹傳統與最先進的測試與可測試設計技術。學員在學習之後，不但能夠解
決多樣化積體電路(IC)測試的問題，更能夠在設計之中加入測試的概念，設計出高品質與
低測試成本的IC。
課程大綱
1. Introduction to scan design
2. Fundaments of fault simulation & ATPG
3. Scan chain insertion & ATPG with scan design (實作)
授課師資 趙家佐 教授
現職：國立交通大學電子工程系助理教授
經歷：美國加州大學聖塔芭芭拉分校 研究助理
NEC紐澤西研究實驗室 研發人員
專長：Statistical timing analysis、delay testing、test-response 、
compaction、physical automation、low-power testing
※報名方式：1.傳真（03-5711992）、email（mingyu@nctu.edu.tw）回覆本報名表均可
。
2.線上報名請至網站 http://submic.ee.nctu.edu.tw 點選『開課報名』依步驟報名。
※選課前請詳閱課程簡章，報名後恕不受理退費或轉科。
※連絡方式：交通大學電子系人才培訓中心 陳敏玉小姐
電話 (03) 5731744 傳真(03)5711992
地址：300新竹市大學路1001號 工程四館312A室,
網址：http://submic.ee.nctu.edu.tw Email：mingyu@nctu.edu.tw