(代妹妹PO)
不知道這個問題能不能在這個版PO,
就是本人的妹妹不知道為什麼要交Probe Card的作業(太忙了,反正就是幫他PO),問題如
下:
Wafer CP probe card測試問題
1. 若是高溫測試是否有 normal的life time?
2. 高溫測試是否有需要注意的地方?例如清針次數、預熱時間、O/D值
3. 高溫測試是否會有沾黏wafer 的問題?
4. 高溫測試會影響Wafer的yield嗎?
5. 高溫測試會影響到open short嗎?
不知道各位年薪百萬能不能幫助她了解問題,或是說有什麼推薦的網路資源能幫他解答,
謝謝~