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Pat Gelsinger是你們業界的嗎？
他說：「若在不先定義晶片尺寸的情況下，就以%數做為衡量半導體標準的人，並不理解良
率。通常會用DD（defect densities，缺陷密度）來評估良率。」
難怪他被退休惹
※ 引述 《a000000000 (比古A十郎)》 之銘言：
: 　
: 我直接說惹
: 業界沒有人晶片良率看defect density
: 良率只看功能正不正常 效能正不正常
: 　
: defect跟良率不是無關
: 不直接相關
: 　
: 　
: 　
: 一般情況要紙面上提升良率
: 那就把期待的效能區間放寬
: 良率就上來惹
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: 　
: 不過功能不正常的還是不能用
: 　
: 例如預期1+1=2但是跑出來1+1=3之類der
: 功能問題通常4報錯比較多