[問題] 薄膜量測熱膨脹係數(CTE)

作者: stacy760414 (Hurricane)   2017-05-31 21:55:15
版上各位晚安,
公司內部要開始建立材料的熱膨脹係數,
Vender提供的是以TMA測定的CTE數值,
我們希望能量測材料在實際應用面時呈現的數值,
因此希望能將材料以薄膜方式圖佈在基材上去做量測,
目前找到的方法有微懸臂量測(From 學術界),
但sample製作相當費工,
可能無法考慮每種材料都這樣做,
同時也有找到利用奈米壓痕跡測試CTE,
但目前可以送測的單位也遇到無法量測的問題(控溫系統無法控制)
不知道各位是否有推薦可以量測的方法?
本身非機械領域,
大部分資訊都是查詢後
發現學術界會探討薄膜機械性質或特性的多為機械系,
因此來版上詢問~
隔行如隔山, 先謝謝各位指點囉!!
作者: phisch (phisch)   2017-06-01 09:23:00
可以以公司名義向宜特或SGS詢問他們家有怎樣的機台可以達到你要的需求吧
作者: stacy760414 (Hurricane)   2017-06-01 13:07:00
p大這方面我們也有詢問,但目前都沒有符合需求的測定方式
作者: king786945 (sloken)   2017-06-01 13:10:00
熱膨脹係數不好測喔 建議你去問學校教授
作者: phisch (phisch)   2017-06-02 01:03:00
你的薄膜是微米還是奈米等級?如果塗布在膜材上不會擔心被膜材的cte干擾嗎? 如果是拉伸的pet膜還要考慮md/td方向的cte差異跟熱後縮等
作者: stacy760414 (Hurricane)   2017-06-02 09:43:00
膜材主要是2-50um等級,塗布在Si wafer上,因為想知道實際應用狀況所以想確認有被影響狀況下的CTE

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